Produkt-Informationen "OTC-DT-OC-SP-032-032-GKS"
- Bewährte Komponenten für den Opens-Test zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Passend für Keysight- (TestJet, VTEP), Teradyne- (FrameScan) und Spea- (Escan) -Testsysteme
- Einfache, schnelle Montage
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Produkt Details
- Bewährte Komponenten für den Opens-Test zur kapazitiven Prüfung von Halbleiterchips auf Durchbrüche, Kurzschlüsse und Lötfehler
- Passend für Keysight- (TestJet, VTEP), Teradyne- (FrameScan) und Spea- (Escan) -Testsysteme
- Einfache, schnelle Montage
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Technische Daten